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  • BladeCam2-HR-1310CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機 355-1350nm

    BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機 355-1350nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-08
    產(chǎn)品型號：BladeCam2-HR-1310
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  • BeamOn U3-EBladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機 355-1150nm

    BladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機 355-1150nm 產(chǎn)品應(yīng)用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-08
    產(chǎn)品型號：BeamOn U3-E
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  • Beam 1550.國產(chǎn)光束質(zhì)量分析儀Beam 1550

    國產(chǎn)光束質(zhì)量分析儀Beam 1550 筱曉自主研發(fā)國產(chǎn)光束質(zhì)量分析儀Beam VIS/Beam 1550，默認波長范圍190-1150nm。具有高分辨率，這款分析儀小巧輕便，便于安裝在狹小和封閉環(huán)境中。

    更新時間：2025-07-04
    產(chǎn)品型號：Beam 1550.
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  • BeamOn U3-E激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR)

    Duma BeamOn U3-E 激光光束分析儀 350-1350nm (VIS NIR) 產(chǎn)品總覽 BeamOn U3是一種光束測量系統(tǒng)是一種光束測量系統(tǒng)，用于實時測量單束或多束的位置、功率和輪廓。該系統(tǒng)是用于連續(xù)或脈沖激光束實時測量的光束診斷測量系統(tǒng)。

    更新時間：2024-12-06
    產(chǎn)品型號：BeamOn U3-E
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  • TaperCamD-LCM.TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機型光束質(zhì)量分析儀 355-1150nm

    TaperCamD-LCM 大感光面COMS相機型光束質(zhì)量分析儀 355-1150nm 應(yīng)用領(lǐng)域 連續(xù)和脈沖激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄

    更新時間：2024-12-06
    產(chǎn)品型號：TaperCamD-LCM.
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